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ISBN:
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978-7-111-26145-2 价格： CNY28.00 |
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语种:
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chi |
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题名:
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测试技术 ce shi ji shu / 甘晓晔主编 , |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2009 |
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载体形态:
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251页 图 26cm |
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附注:
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高职高专“十一五”机电一体化专业规划教材 |
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摘要:
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本书共12章，分为测试基础理论知识和典型非电量测量两部分。第一部分包括信号及其描述，测试系统常用传感器，信号调理与记录，测试系统的特性，测试信号的分析与处理；第二部分包括位移的测量，速度的测量，振动的测试，噪声的测量，应变、力和扭矩的测量，温度的测量。 |
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主题:
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测试技术 高等教育 |
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主题:
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测试技术 |
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中图分类:
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TB9 版次： 4 |
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主要责任者:
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甘晓晔 gan xiao ye 主编 |