题名:
形位公差与检测技术   xing wei gong cha yu jian ce ji shu / 陈山弟编著 ,
ISBN:
978-7-111-25455-3 价格: CNY22.00
语种:
chi
载体形态:
149页 图 24cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2009
内容提要:
本书内容包括:常用典型零件的测量、形位公差及其测量、车床几何精度检测和车床几何精度对加工质量的影响等。 
主题词:
形位公差  
主题词:
技术测量  
中图分类法:
TG80 版次: 4
主要责任者:
陈山弟 chen shan di 编著