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ISBN:
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978-7-111-21582-0 价格： CNY18.00 |
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语种:
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chi |
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题名:
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公差配合与技术测量 gong cha pei he yu ji shu ce liang / 于凤丽主编 , |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2008 |
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载体形态:
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172页 26cm |
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附注:
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中等职业教育“十一五”规划教材 |
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摘要:
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本书分为绪论，光滑孔、轴尺寸的公差与配合，技术测量基础，形状和位置公差及检测，表面粗糙度，光滑极限量规及典型零件的公差及检测共七章。 |
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主题:
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技术测量 中等专业教育 |
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主题:
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公差 配合 |
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中图分类:
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TG801 版次： 4 |
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主要责任者:
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于凤丽 yu feng li 主编 |