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ISBN:
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7-5609-3848-5 价格： CNY18.50 |
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语种:
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chi |
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题名:
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公差与测量技术 gong cha yu ce liang ji shu / 姜明灿，张正祥，吴水萍主编 , |
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出版发行:
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出版地： 武汉 出版社： 华中科技大学出版社 出版日期： 2006 |
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载体形态:
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177页 图 26cm |
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附注:
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21世纪高职高专机电系列规划教材 |
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摘要:
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本书主要内容包括：测量技术基础、尺寸公差与检测、形位公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度公差与检测等。 |
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主题:
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公差 配合：技术测量 |
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中图分类:
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TG801 版次： 4 |
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主要责任者:
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姜明灿 jiang ming can 主编 |
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主要责任者:
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张正祥 zhang zheng xiang 主编 |
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主要责任者:
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吴水萍 wu shui ping 主编 |